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【单选题】
在MOS结构高频C-V测试中,强反型时MOS结构的电容C应等于______。
A.
氧化层电容Ci
B.
半导体空间电荷区电容Cs
C.
Ci与Cs电容的 并联
D.
Ci与Cs电容的串联
参考答案：
参考解析：
刷刷题刷刷变学霸
举一反三
【单选题】下列对于软件测试的描述中正确的是______。
A.
软件测试的目的是证明程序是否正确
B.
软件测试的目的是使程序运行结果正确
C.
软件测试的目的是尽可能多地发现程序中的错误
D.
软件测试的目的是使程序符合结构化原则