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【多选题】
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.
均匀性
B.
粒度效应
C.
辐射
D.
吸收-增强效应
参考答案：
参考解析：
刷刷题刷刷变学霸
举一反三
【多选题】在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.
均匀性
B.
粒度效应
C.
辐射
D.
吸收-增强效应
【单选题】在X射线荧光分析中，影响定量的因素为______。
A.
减弱效应和基体吸收效应；
B.
减弱效应和基体增强效应；
C.
增强效应和基体增强效应；
D.
增强效应和基体吸收效应。
【单选题】用叠加定理分析线性电路时:
A.
独立源置零时，电压源断路，电流源短路。
B.
独立源置零时，电压源短路，电流源断路
C.
独立源置零时，电压源电流源都短路
D.
独立源置零时，电压源电流源都断路
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【多选题】叠加定理可用用于分析线性电路中的( )。
A.
某条支路上的电流响应
B.
某条支路上的电压响应
C.
某条支路上的功率
D.
电路的任何物理量
【判断题】原子吸收光谱法选用的吸收分析线一定是最强的共振吸收线。()
A.
正确
B.
错误
【多选题】在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
A.
均匀性
B.
粒度效应
C.
辐射
D.
吸收-增强效应
【多选题】全反射X射线荧光分析,有哪些应用领域?
A.
地学元素分析
B.
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C.
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D.
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A.
谱线
B.
峰
C.
灵敏度
D.
强度
【单选题】（）是分析线性电路的一个重要原理
A.
戴维南定理
B.
叠加原理
C.
基尔霍夫第一定律
D.
基尔霍夫第二定律
【多选题】在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
A.
有代表性
B.
试样均匀
C.
表面平整、光洁、无裂纹
D.
试样有足够厚度，不变形
【单选题】在X射线荧光分析中，影响定量的因素为______。
A.
减弱效应和基体吸收效应；
B.
减弱效应和基体增强效应；
C.
增强效应和基体增强效应；
D.
增强效应和基体吸收效应。
【判断题】根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种。（ ）
A.
正确
B.
错误
【单选题】X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
A.
气体
B.
惰性
C.
分析
D.
氧化性
【判断题】原子吸收光谱法选用的吸收分析线一定是最强的共振吸收线
A.
正确
B.
错误
【单选题】用叠加定理分析线性电路时:
A.
独立源置零时，电压源断路，电流源短路。
B.
独立源置零时，电压源短路，电流源断路
C.
独立源置零时，电压源电流源都短路
D.
独立源置零时，电压源电流源都断路
【单选题】采用移动平均法分析线性趋势的目的是消除
A.
季节变动
B.
周期波动
C.
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D.
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【单选题】在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。
A.
细
B.
粗
C.
超粗
【单选题】下列检测器不用于X射线荧光分析中的是______。
A.
正比检测器；
B.
闪烁检测器；
C.
半导体计数器；
D.
热导检测器。