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【单选题】

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()

A.
近场干扰
B.
材质衰减
C.
盲区
D.
折射
题目标签:缺陷接近单晶片
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参考答案:
参考解析:
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刷刷题刷刷变学霸
举一反三

【单选题】根据《建设工程施工合同(示范文本)》(GF—2013—0201),缺陷责任期自( )起计算。

A.
合同签订日期
B.
竣工验收合格之日
C.
实际竣工日期
D.
颁发工程接收证书之日