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【多选题】
X线头影测量主要应用于（）
A.
研究颅面生长发育
B.
骨龄的确定
C.
错
畸形的诊断分析
畸形的诊断分析D.
正畸矫治的前后对照
E.
正颌外科
参考答案：
参考解析：
刷刷题刷刷变学霸
举一反三
【单选题】上颌前突、下颌后缩畸形的头影测量特点是（）
A.
∠SNA增大，∠SNB增大，∠ANB增大。
B.
∠SNA增大，∠SNB减小，∠ANB增大。
C.
∠SNA减小，∠SNB减小，∠ANB增大。
D.
∠SNA减小，∠SNB增大，∠ANB减小。