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【单选题】
不属于X线头影测量主要用途的是（）。
A.
研究颅面生长发育
B.
牙颌面畸形诊断分析
C.
了解患者的骨龄
D.
错治疗方案设计
E.
评估治疗结果
参考答案：
参考解析：
刷刷题刷刷变学霸
举一反三
【单选题】上颌前突、下颌后缩畸形的头影测量特点是（）
A.
∠SNA增大，∠SNB增大，∠ANB增大。
B.
∠SNA增大，∠SNB减小，∠ANB增大。
C.
∠SNA减小，∠SNB减小，∠ANB增大。
D.
∠SNA减小，∠SNB增大，∠ANB减小。