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【单选题】

在生产半导体元件时,为了测定硅片上的二氧化硅膜的厚度,将薄膜的一端做成劈尖状,若用波长为λ的平行光,从空气由上而下的垂直照射硅片,在垂直方向上观察到劈尖上出现的干涉条纹,其第七条暗纹正好在劈尖与平面膜的交线M处(图示),已知n1

A.
,明纹
B.
,暗纹
C.
,明纹
D.
,暗纹
参考答案:
参考解析:
.
刷刷题刷刷变学霸
举一反三

【单选题】牛顿环干涉条纹的特点有()

A.
明暗相间,等间距的直条纹
B.
明暗相间, 等间距同心圆环
C.
明暗相间,随机性条纹
D.
明暗相间 , 内疏外密的同心圆环

【单选题】以下不是等厚干涉条纹特点的是()。

A.
条纹是等间距的
B.
条纹平行于棱边
C.
相邻明条纹和暗条纹的高度差是相同的
D.
条纹是不等间距的

【多选题】干涉条纹不清晰的主要原因有()。

A.
镜面上有灰尘
B.
物镜焦距不适当
C.
灯丝位置不对、光线不正
D.
反射三棱镜座簧片锈蚀或压紧弹片失去作用