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【单选题】

集成电路的可测性设计DFT通常会需要在电路中增加方便测试、但与功能无关的额外模块。常用的可测性设计技术是 A. B. C.

A.
边界扫描测试技术
B.
内建自测试技术
C.
以上都是
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举一反三