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"表面形貌"相关考试题目
1.
二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时原理相同 ( )
2.
表面形貌误差包括()。
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采用离心力来填充图形地处,温度比较低,能够获得表面形貌的平滑效果的平坦化技术是
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低能电子衍射主要用于观察材料表面形貌
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AFM 通常用来观测样品表面形貌。
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在测量纳米级非导体的零件表面形貌时,常采用测量仪器为()。
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可用于表征材料表面形貌的测试手段是()。
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影响磨合质量的因素很多,除运动副零件的材料、加工质量外,主要因素是______。Ⅰ.润滑;Ⅱ.冷却;Ⅲ.摩擦表面形貌;Ⅳ.燃油及其燃烧质量;Ⅴ.磨合程序。
9.
SEM的表面形貌衬度是由样品表面的凸凹决定。
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在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为()。
11.
二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
12.
题目:数控铣削加工刀具变形及工件表面形貌建模与仿真研究
13.
件述非接触式激光干涉测量表面形貌和表面粗糙度的原理。
14.
题目:金属离子对模拟脂筏结构相行为及表面形貌影响的原子力显微镜研究
15.
题目:基于贝塞尔光三角法的表面形貌测量及其非统计评定方法
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二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
17.
SEM中,二次电子像(SE像)和背散射电子像(BE像)都可以利用信号的做表面形貌衬度分析。( )
18.
研究样品表面形貌特征的的主要研究方法:————;————;————
19.
件述非接触式激光干涉测量表面形貌和表面粗糙度的原理。
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二次电子信号:主要用于分析样品的表面形貌。因它只能从样品表面层5~10nm深度范围内被入射电子束激发出来。( )
21.
用KYKY2000B电镜看铜箔表面形貌时,使用的样品倾角是()
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扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()
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在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为光学显微镜。
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表面形貌设计
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表面粗糙度是表面形貌的最重要的特征。
26.
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是()
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收集下列哪几种信号,可以对样品的表面形貌进行分析
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表面形貌设计
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简述脆性断口表面形貌。
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二次喷丸是为了获得较好的(),先采用高强度再采用低强度进行两次喷丸的工艺。①不允许二次喷丸②残余压应力场③表面形貌④残余应力场
31.
二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
32.
扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察,在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高,可达()nm。
33.
对样品表面形貌进行表征采用的是()。
34.
下列为表面形貌分析手段的是( )。
35.
二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
36.
下列那种表面分析技术不属于表面形貌及结构分析技术。( )
37.
采用离心力来填充图形地处,温度比较低,能够获得表面形貌的平滑效果的平坦化技术是
38.
扫描电子显微镜的()是利用对试样表面形貌敏感的物理信号作为调制信号得到的一种像衬度。( )
39.
氧化石墨和石墨烯的表面形貌和片层厚度主要通过()进行观察研究。
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观察纳米材料表面形貌常用的方法有( )。
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仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是
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在进行纳米级测量两个导体的表面形貌时,常采用的测量仪器为()。
43.
在进行纳米级测量两个导休的表面形貌时,常采用的测量仪器为
44.
仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是
45.
【名词解释】表面形貌特征
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表面形貌分析的手段包括
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在进行纳米级测量非导体的零件表面形貌时,常采用的测量仪器为()。
48.
简述月球表面形貌的构成。
49.
表面形貌衬度是指利用( )来形成图像衬度。
50.
扫描电镜中, 像可研究样品表面形貌和成分分布。