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"德拜法"相关考试题目
1.
德拜法底片的安装方式可分以下几种（）。
2.
德拜法常用的底片安装方式有:正装法、反装法和偏装法。
3.
采用德拜法分析样品的晶体结构特征的技术，对单晶结构的材料应用更多。
4.
试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?
5.
试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
6.
德拜法的样品是平板状的,而衍射仪法的样品是圆柱形的。
7.
德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为 ( )
8.
德拜法测定点阵常数时,下列哪种不是系统误差的主要来源 ?
9.
衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？
10.
德拜法中采用底片正装时，高角弧线接近中心孔，低角线条靠端部。
11.
德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。( )
12.
衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？
13.
单晶样品可以采用德拜法进行测量。
14.
德拜法采用一束特征 X 射线 照射多晶体试样,并用 底片记录。
15.
试比较衍射仪法与德拜法的优缺点？
16.
德拜法比衍射仪法所需样品的量更少。( )
17.
德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。
18.
试从入射光束、样品形状、成相原理（厄瓦尔德图解）、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度（公式）、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法的异同点。
19.
德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。
20.
衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？
21.
德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为
22.
请简述德拜法摄照规程。
23.
在德拜法中,一束特征X射线照射到多晶样品上,足够大的底片会记录到
24.
德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于( )。
25.
请比较衍射仪法与德拜法的特点。
26.
德拜法中采用正装法安装底片，常用于物相分析
27.
试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
28.
试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
29.
德拜 法中采用底片正装时, 高角弧线接近中心孔,低角线条靠端部( )
30.
衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。
